雷達物位計，采用最新的雷達技術，精準識別發射微波與接收微波的時間間隔，從而計算出雷達物位計天線到被測介質表面的距離。以此檢測各種介質的物料高度。非接觸式測量技術，不受過程條件的影響，如溫度、壓力、揮發、強烈粉塵等；儀表安裝調試非常簡便，無需充填和排空容器。